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Introdução à Cristalografia (IQG-483)

Ementa registrada no sistema SIGA

Cristais. Simetria Cristalina. Interação dos Raios X com a Matéria. Transformada de Fourrier e Aplicação em Cristalografia. Medidas Experimentais. Métodos de Determinação de Estrutura. Introdução ao Refinamento de Estruturas Cristalinas.

Informações adicionais fornecidas pelo Departamento

Programa detalhado, carga horária e bibliografia